Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия презентация


Презентации» Физика» Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия
Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопияПлан
 1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)
 2. Сканирующая туннельная микроскопияЛитература
 Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by RolandОптический микроскоп
 Дифракционный предел разрешения:
 апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5Электронный микроскопСЭМ: принцип сканирования
 Принцип сканирования: увеличение M =L/lСканирующий туннельный (зондовый) микроскоп1982 – 1-й СТМЧто такое «сканирующий зонд»?Основные элементы СЗМПьезосканерПодведение зонда к образцуАлгоритм подведения зонда
 Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния отПримеры СЗМ и СТМПринцип сканированияФормат данных в СЗМ
 HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический форматПредставление СЗМ данных



Слайды и текст этой презентации
Слайд 1
Описание слайда:
Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия


Слайд 2
Описание слайда:
План 1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) 2. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) 3. Сканирующая атомно-силовая микроскопия (АСМ) 4. Применение средств СЗМ в изучении наноматериалов и наноструктур, СЗМ-наноинженерия

Слайд 3
Описание слайда:
Литература Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by Roland Wiesendanger Cambridge University Press, 1994 ISBN 0521428475, 9780521428477 • Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods by Roland Wiesendanger, Springer, 1998 ISBN 3540638156, 9783540638155 • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy : Theory, Techniques, and Applications by Dawn Bonnell (Editor), Wiley-VCH, 2000 • Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by Ernst Meyer ,Hans Josef Hug, Roland Bennewitz, Springer-Verlag, 2003, ISBN: 3540431802 • Основы сканирующий зондовой микроскопии, Миронов В. Л., 2004. Твердый переплет. 144 с. цена : 186,00 руб (https://www.books.ru/shop/books/230464) • Г. Бинниг, Г. Рорер, «Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности», УФН, 154 (2) (1988) • http://www.ntmdt.ru/spm-basics • http://www.veeco.com/library/ • http://www.almaden.ibm.com/vis/stm/ • http://www.nanoscience.de/group_

Слайд 4
Описание слайда:
Оптический микроскоп Дифракционный предел разрешения: апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5 в масле

Слайд 5
Описание слайда:
Электронный микроскоп

Слайд 6
Описание слайда:
СЭМ: принцип сканирования Принцип сканирования: увеличение M =L/l

Слайд 7
Описание слайда:
Сканирующий туннельный (зондовый) микроскоп

Слайд 8
Описание слайда:
1982 – 1-й СТМ

Слайд 9
Описание слайда:
Что такое «сканирующий зонд»?

Слайд 10
Описание слайда:
Основные элементы СЗМ

Слайд 11
Описание слайда:
Пьезосканер

Слайд 12
Описание слайда:
Подведение зонда к образцу

Слайд 13
Описание слайда:
Алгоритм подведения зонда Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния от поверхности 1мм до расстояния 0.1 нм (за 1 минуту) эквивалентно полету к Луне с остановкой на высоте 40м над ее поверхностью (со скоростью 23 миллионов км/час)

Слайд 14
Описание слайда:
Примеры СЗМ и СТМ

Слайд 15
Описание слайда:
Принцип сканирования

Слайд 16
Описание слайда:
Формат данных в СЗМ HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический формат данных) разрабатываемый The National Center for Supercomputing Applications (http://www.ncsa.uiuc.edu) с 1987г. и довольно широко используемый в настоящее время научным сообществом: http://www.hdfgroup.org/ Географические информационные системы (ГИС) и дистанционное зондирование Земли http://gis-lab.info/docs/hdf.html

Слайд 17
Описание слайда:
Представление СЗМ данных


Скачать презентацию на тему Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия можно ниже:

Похожие презентации