Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия презентация
Содержание
- 2. План 1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) 2. Сканирующая туннельная микроскопия
- 3. Литература Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by Roland
- 4. Оптический микроскоп Дифракционный предел разрешения: апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5
- 5. Электронный микроскоп
- 6. СЭМ: принцип сканирования Принцип сканирования: увеличение M =L/l
- 7. Сканирующий туннельный (зондовый) микроскоп
- 8. 1982 – 1-й СТМ
- 9. Что такое «сканирующий зонд»?
- 10. Основные элементы СЗМ
- 11. Пьезосканер
- 12. Подведение зонда к образцу
- 13. Алгоритм подведения зонда Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния от
- 14. Примеры СЗМ и СТМ
- 15. Принцип сканирования
- 16. Формат данных в СЗМ HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический формат
- 17. Представление СЗМ данных
- 18. Скачать презентацию
Слайды и текст этой презентации
Скачать презентацию на тему Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия можно ниже: