Сканирующий атомно-силовой микроскоп презентация

Сканирующий атомно-силовой микроскоп Казанский (Приволжский) федеральный университет Институт физики Кафедра физики твердого тела

Немного истории…

Возможности ССМ Получение изображений поверхности образцов Изучение электронных и магнитных состояний поверхности Изучение атомно-силовых взаимодействий Атомное конструирование Литография

Физические основы метода

Датчики ССМ

Конструкция атомно-силового микроскопа Основными конструктивными составляющими атомно-силового микроскопа являются: •Жёсткий корпус, удерживающий систему •Держатель образца, на котором образец впоследствии закрепляется •Устройства манипуляции •Зонд •Система регистрации отклонения зонда -Оптическая (включает лазер и фотодиод, наиболее распространённая) - Пьезоэлектрическая (использует прямой и обратный пьезоэффект) -Интерферометрическая (состоит из лазера и оптоволокна) -Ёмкостная (измеряется изменение ёмкости между кантилевером и расположенной выше неподвижной пластиной) -Туннельная (исторически первая, регистрирует изменение туннельного тока между проводящим кантилевером и расположенной выше туннельной иглой) •Система обратной связи •Управляющий блок с электроникой

Система регистрации изгиба

Принцип работы

Два приема ССМ

Режимы работы

ССМ

Список литературы Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Н. Новгород. – 2004. – 114 с. http://phys.unn.ru/Библиотека- Материалы лекций, методические пособия- Сканирующая зондовая спектроскопия Bhanu. Methods in Cell / Bhanu, P. Jena, J. Heinrich, K. Horber // Biology. – 2002. – Vol 68. Li, Hong-Qiang. “Atomic Force Microscopy”. http://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729.afm.htm

Спасибо за внимание!