Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM)
Здесь, Вы можете скачать урок презентацию на тему Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM).
Красочные слайды и иллюстрации помогут Вам заинтересовать слушателей и сделать
ваше выступление более информативным. Доклад-презентация на заданную тему
содержит 26 слайдов. Презентация создана в программе PowerPoint. Материал
будет
полезен как для учителей и преподавателей, так и для учащихся любой возрастной
категории. Не забывайте поделиться найденным докладом или презентацией с помощью
социальных кнопок.
- Имя файла презентации: skachat-Crosssection-sample-preparation-using-focused-ion-beam-system-FIB-for-transmission-electron-microscopy-TEM .ppt
- Тип файла презентации: ppt
- Просмотрели: 243
- Скачали: 3
