Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM) презентация
Слайды и текст этой презентации
Слайд 1
Описание слайда:
CROSS-SECTION SAMPLE PREPARATION USING FOCUSED ION BEAM SYSTEM (FIB) FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)
Speaker: Volochaev M.N.
Scientific supervisor: Loginov Yu.Yu.
Слайд 2
Описание слайда:
Слайд 3
Описание слайда:
Слайд 4
Описание слайда:
Слайд 5
Описание слайда:
Слайд 6
Описание слайда:
Слайд 7
Описание слайда:
Слайд 8
Описание слайда:
Слайд 9
Описание слайда:
Слайд 10
Описание слайда:
Basic steps of cross-section sample preparation by FIB
Слайд 11
Описание слайда:
Слайд 12
Описание слайда:
Слайд 13
Описание слайда:
Слайд 14
Описание слайда:
Слайд 15
Описание слайда:
Слайд 16
Описание слайда:
Слайд 17
Описание слайда:
Слайд 18
Описание слайда:
Слайд 19
Описание слайда:
Слайд 20
Описание слайда:
Слайд 21
Описание слайда:
Слайд 22
Описание слайда:
Слайд 23
Описание слайда:
Слайд 24
Описание слайда:
Слайд 25
Описание слайда:
Слайд 26
Описание слайда:
Скачать презентацию на тему Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM) можно ниже:
