Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM) презентация


Презентации» Химия» Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM)
CROSS-SECTION SAMPLE PREPARATION USING FOCUSED ION BEAM SYSTEM (FIB) FOR TRANSMISSIONBasic steps of cross-section sample preparation by FIB



Слайды и текст этой презентации
Слайд 1
Описание слайда:
CROSS-SECTION SAMPLE PREPARATION USING FOCUSED ION BEAM SYSTEM (FIB) FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM) Speaker: Volochaev M.N. Scientific supervisor: Loginov Yu.Yu.


Слайд 2
Описание слайда:

Слайд 3
Описание слайда:

Слайд 4
Описание слайда:

Слайд 5
Описание слайда:

Слайд 6
Описание слайда:

Слайд 7
Описание слайда:

Слайд 8
Описание слайда:

Слайд 9
Описание слайда:

Слайд 10
Описание слайда:
Basic steps of cross-section sample preparation by FIB

Слайд 11
Описание слайда:

Слайд 12
Описание слайда:

Слайд 13
Описание слайда:

Слайд 14
Описание слайда:

Слайд 15
Описание слайда:

Слайд 16
Описание слайда:

Слайд 17
Описание слайда:

Слайд 18
Описание слайда:

Слайд 19
Описание слайда:

Слайд 20
Описание слайда:

Слайд 21
Описание слайда:

Слайд 22
Описание слайда:

Слайд 23
Описание слайда:

Слайд 24
Описание слайда:

Слайд 25
Описание слайда:

Слайд 26
Описание слайда:


Скачать презентацию на тему Cross-section sample preparation using focused ion beam system (FIB) for transmission electron microscopy (TEM) можно ниже:

Похожие презентации